計(jì)測產(chǎn)品推薦

電容器溫度特性評估系統(tǒng)

介電特性評估系統(tǒng)AMQ

“電容器溫度特性評估系統(tǒng)"是一個(gè)自動多通道系統(tǒng),可將環(huán)境測試箱與測量和評估系統(tǒng)相結(jié)合，以便高效收集數(shù)據(jù)。

測試內(nèi)容

*記錄的測量結(jié)果可以在圖形和列表中實(shí)時(shí)查看。

八個(gè)通道的數(shù)據(jù)可以顯示在一個(gè)圖表上。

可以根據(jù)偏好選擇要顯示的頻道。

產(chǎn)品性能

1、最多可自動測量128個(gè)通道

該系統(tǒng)可在不同溫度環(huán)境下測量多個(gè)通道的靜電容量(C)、損耗系數(shù)(D)和阻抗(Z)。

您可以選擇8個(gè)通道的倍數(shù),最多128個(gè)通道。

2、圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測量結(jié)果

收集的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時(shí)間下的電氣特性值和變化率，可通過各種圖形函數(shù)實(shí)時(shí)查看。

3、多測試模式

有三種測試模式可選:溫度特性評估測試、定值運(yùn)行測試和頻率特性測試。

溫度特性評估測試

在此測試模式下,自動記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度同步變化,最多40步。

定值運(yùn)行測試

該測試模式測量特定溫度環(huán)境下特性隨時(shí)間的變化,并自動記錄數(shù)據(jù)。

頻率特性評估測試

該測試模式自動記錄各種頻率下的特性數(shù)據(jù),同時(shí)在特定溫度環(huán)境中改變頻率。

測試可與溫度特性評估測試或定值運(yùn)行測試相結(jié)合。

SMD組件專用夾具(可選)

4、各種可選夾具可用于不同的測試樣品(可選)

除了用于SMD元件的專用夾具外,我們還提供針對分立器件形狀定制的夾具。

SMD組件專用夾具(可選)

規(guī)格

*測量數(shù)據(jù)取決于試樣和測試條件。