CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測(cè)試探針臺(tái)

簡(jiǎn)要描述：CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測(cè)試探針臺(tái)CL系列探針臺(tái)可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ；

可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用

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品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	地礦,能源,電子/電池,汽車(chē)及零部件,電氣

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測(cè)試探針臺(tái)特點(diǎn) / 應(yīng)用

滿足I-V/C-V，PIV測(cè)試，光電測(cè)試等.

大可用于8英寸以內(nèi)樣品測(cè)試

同軸絲杠傳動(dòng)結(jié)構(gòu)，線性移動(dòng)

兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)

可升級(jí)做射頻，大電流方面的測(cè)試和激光修復(fù)應(yīng)用

CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測(cè)試探針臺(tái)

臺(tái)體規(guī)格：

尺寸	4英寸/6英寸/8英寸
水平旋轉(zhuǎn)	可360度旋轉(zhuǎn)，可微調(diào)15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置
X-Y移動(dòng)行程	4英寸4英寸/6英寸6英寸
X-Y移動(dòng)精度	10微米/1微米
樣品臺(tái)Z軸調(diào)節(jié)	可升降10mm
樣品固定	真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán)
針座平臺(tái)	U型針座平臺(tái)，多可放置6個(gè)探針座
背電極測(cè)試	樣品臺(tái)電學(xué)獨(dú)立懸空，4mm插孔可接背電極
外形尺寸	400mm長(zhǎng)400mm寬600mm高/580mm長(zhǎng)480mm寬600mm高
重量	約40千克/60千克

光學(xué)系統(tǒng)：

探針座

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